光偵測(cè)器為一小型的偵測(cè)器、用以控制霧化與蒸發(fā)過(guò)程的溫度，可確保低分散性以提供可信賴(lài)的液相層析（HPLC）/揮發(fā)型光散射（ELS）分析結(jié)果，使你在每次的分析時(shí)能得到更多的峰信號(hào)及具可靠再現(xiàn)性的LC及LC/MS分析結(jié)果。

 

　　光偵測(cè)器的功能和應(yīng)用：

 

　　1. 材料表面形貌測(cè)試

　　AFM在水平方向具有0.1-0.2nm的高分辨率，在垂直方向的分辨率約為0.01nm。AFM對(duì)表面整體圖像進(jìn)行分析可得到樣品表面的粗糙度、顆粒度、平均梯度、孔結(jié)構(gòu)和孔徑分布等參數(shù)，還可以對(duì)測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行三維模擬，得到更加直觀的3D圖像。

 

　　2.相位移模式原子力顯微鏡

　　作為輕敲模式的一項(xiàng)重要的擴(kuò)展技術(shù)，相位移模式通過(guò)檢測(cè)驅(qū)動(dòng)微懸臂探針振動(dòng)的信號(hào)源的相位角與微懸臂探針實(shí)際振動(dòng)的相位角之差（即兩者的相移）的變化來(lái)成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)等。因此利用相位移模式，可以在納米尺度上獲得樣品表面局域性質(zhì)的豐富信息。相位移模式已成為原子力顯微鏡/AFM的一種重要檢測(cè)技術(shù)。

 

　　3.力曲線測(cè)試

　　AFM除了形貌測(cè)量之外，還能測(cè)量力對(duì)探針-樣品間距離的關(guān)系曲線Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關(guān)于樣品和針尖間相互作用的必要信息。這個(gè)技術(shù)可以用來(lái)測(cè)量探針尖和樣品表面間的排斥力或長(zhǎng)程吸引力，揭示定域的化學(xué)和機(jī)械性質(zhì)，像粘附力和彈力，甚至吸附分子層的厚度。如果將探針用特定分子或基團(tuán)修飾，利用力曲線分析技術(shù)就能夠給出特異結(jié)合分子間的力或鍵的強(qiáng)度，其中也包括特定分子間的膠體力以及疏水力、長(zhǎng)程引力等。